一、高精度型马尔薄膜测厚仪配置

高精度型马尔薄膜测厚仪1240 包含：

1.超高精度型显示器1240（分辨率：0.01um）

2.高精度型电感测头P2004MA

3.手动提升器1340/1F

4.小型比较仪座820N

5.大球面测帽

6. 数据线（RS232C）用于连接PC 

7.Mahr Millimar 薄膜测厚仪专用统计分析软件

二、高精度型马尔薄膜测厚仪应用范围

高精度型马尔薄膜测厚仪主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度***测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域。

高精度型马尔薄膜测厚仪显示器1240与高精度型电感测头P2004MA配合使用，可实现4000μm量程范围内的高精度测量，测量分辨***达0.01μm。

高精度型电感测头P2004MA可根据需要更换测量弹簧，有0.25N、0.5N、1N、1.25N、1.5N五种规格的测量弹簧可供选择，可实现不同软硬材料薄膜的准确测量。

测量结果可通过数字显示也可以在刻盘上以指针显示，满足不同的读数要求。

高精度型马尔薄膜测厚仪可连接计算机，通过在计算机中安装Mahr Millimar薄膜测厚仪专用统计分析软件，可实现测量数据手动·自动采集，曲线图形统计分析，值，最小值，平均值，偏差值的统计分析等，可满足高频率测量，便于在计算机中保存及打印测量数据。

三、超高精度型显示器Millimar 1240产品特性

· 对测量值进行高精度处理

· 可在测量范围内的任意点置零

· 按一下按钮， 即可获得标准的实际值

· 具有对1个特征统计x-bar、s、r、和n的功能

· 公差显示(可以调节滞后性)

· 公差带可在整个范围内设置

· 可进行常规分级

· 长时间稳定的存储极值

· 2个Mahr兼容的电感测头输入口，用于单个、叠加、比较测量

· RS232C接口用于连接打印机/电脑/数据记录器

· 模拟输出用于连接记录器

· 所有功能均可通过RS232C口进行控制

· 标准配置:操作说明书和电源连接

四、高精度型马尔薄膜测厚仪显示器Millimar 1240技术参数

型号：Millimar 1240显示设备   

显示方式：指针/数字   

指针显示(量程可选）：   

量程（μm）/分辨率（μm）    

±1/ 0.02  

±3/0.1   

±10/0.2     

±30/1   

±100/2     

±300/10    

±1000/20      

±3000/100   

±10000/200   

数字显示：   

量程（μm）/分辨率（μm） 

±200/0.01   

±2000/0.1   

在测量范围内的误差分布 

模拟显示: ≤1.5 %  

数字显示: ≤0.01%  

模拟输出: ≤1 %  

响应时间: 15 ms

耗电量: 约30 VA   

模拟输出电压: ±5 V   

数据输出: RS 232 C   

极限开关量: 2   

控制输出: 3 

信号灯: 3     

零位调节: 在任意位置置零  

输出类型: TTL   

外形尺寸(W x H x D): 156x 195 x 120 mm   

重量: 2.3 kg / 5.07 lbs   

单个/组合测头测量： +A, -A , +B, -B, A+B, +A-B, -A+B, -A-B   

动态测量功能： Max, Min, Max-Min,(Max+Min)/2, mean   

工作温度范围： +10 . . . +40°C / + 50. . . + 104° F   

电源要求： 230 V~ /115 V~ ± 10%, 50–60 Hz (可切换)   

统计功能： n, xn, x, s, R   

防护等级： 依据DIN IP40   

五、高精度型马尔薄膜测厚仪电感测头Millimar P2004M技术参数

型号：Millimar（马尔）P2004M电感测头   

测量范围： ±2mm  

提升/回退： 真空提升   

上限位： -2.2~0mm  

下限位： ﹢2.2~4.4mm 

滞后性误差fu： 0.5μm  

重复性误差fw： 0.1μm    

电子零点处的测力： 0.75N±0.15N  

测力增量   0.2N/mm  

灵敏度误差： 0.3%  

灵敏度经过修正后的线性误差   

在±0.1量程内   —   

在±0.5量程内   0.4μm 

在±1.0量程内   1.5μm 

在±2.0量程内   3.0μm       

防护等级   IP64    

缆线长度   2.5m  

六、马尔薄膜测厚仪Mahr Millimar 薄膜测厚仪专用统计分析软件

软件运行显示界面如下：

Mahr Millimar 薄膜测厚仪专用统计分析软件是特别为薄膜行业开发的统计分析软件，可实现测量数据手动·自动采集，曲线图形统计分析，值，最小值，平均值，偏差值的统计分析等，便于在计算机中保存及打印测量数据，是薄膜测量过程中不可或缺的统计分析工具。

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